ettevõtte_sissejuhatus

Liitiumaku elektroodide mõõtmise seadmed

  • Superröntgenikiirguse pindala tiheduse mõõtmise mõõtur

    Superröntgenikiirguse pindala tiheduse mõõtmise mõõtur

    Mõõtmist saab kohandada enam kui 1600 mm laiusele kattekihile. Toetab ülikiiret skaneerimist.

    Tuvastada saab väikeseid iseärasusi, nagu hõrenemised, kriimustused ja keraamilised servad.

  • CDM integreeritud paksuse ja pindala tiheduse mõõtur

    CDM integreeritud paksuse ja pindala tiheduse mõõtur

    Katteprotsess: elektroodi väikeste omaduste reaalajas tuvastamine; elektroodi tavalised väikesed omadused: puhkusenälg (voolukollektori lekke puudumine, väike halli erinevus normaalse kattepinnaga, CCD-tuvastuse ebaõnnestumine), kriimustused, hõreneva ala paksuse kontuur, AT9 paksuse tuvastamine jne.

  • Laserpaksuse mõõtur

    Laserpaksuse mõõtur

    Elektroodi paksuse mõõtmine liitiumaku katmis- või valtsimisprotsessis.

  • Röntgen-/β-kiirguse pindala tihedusmõõtur

    Röntgen-/β-kiirguse pindala tihedusmõõtur

    Liitiumaku elektroodi katmisprotsessis ja separaatori keraamilise katmisprotsessis tehke mõõdetud objekti pinnatiheduse mittepurustavat testimist võrgus.

  • Võrguühenduseta paksuse ja mõõtmete mõõtur

    Võrguühenduseta paksuse ja mõõtmete mõõtur

    Seda seadet kasutatakse elektroodide paksuse ja mõõtmete mõõtmiseks liitiumakude katmisel, valtsimisel või muudes protsessides ning see võib parandada katmisprotsessi esimese ja viimase eseme mõõtmise efektiivsust ja järjepidevust ning pakkuda usaldusväärset ja mugavat meetodit elektroodide kvaliteedi kontrollimiseks.

  • 3D-profiilomeeter

    3D-profiilomeeter

    Seda seadet kasutatakse peamiselt liitiumaku klappide keevitamiseks, autoosade, 3C elektrooniliste osade ja 3C üldise testimise jms jaoks ning see on omamoodi ülitäpne mõõteseade, mis hõlbustab mõõtmist.

  • Kile tasasuse mõõtur

    Kile tasasuse mõõtur

    Testige fooliumi- ja eraldusmaterjalide pinge ühtlust ning aidake klientidel mõista, kas erinevate kilematerjalide pinge on ühtlane, mõõtes kilematerjalide laine serva ja rullumisastet.

  • Optiline interferentsi paksuse mõõtur

    Optiline interferentsi paksuse mõõtur

    Mõõda optilist kilekatet, päikesekiipe, üliõhukest klaasi, kleeplinti, Mylar-kilet, OCA optilist liimi ja fotoresisti jne.

  • Infrapuna paksusemõõtja

    Infrapuna paksusemõõtja

    Mõõtke niiskusesisaldust, katte kogust, kile ja kuumliimi paksust.

    Liimimisprotsessis kasutamisel saab selle seadme paigutada liimimispaagi taha ja ahju ette liimikihi paksuse reaalajas mõõtmiseks. Paberitootmisprotsessis kasutamisel saab selle seadme paigutada ahju taha kuiva paberi niiskusesisalduse reaalajas mõõtmiseks.

  • Röntgenkiirguse online paksuse (grammkaalu) mõõtur

    Röntgenkiirguse online paksuse (grammkaalu) mõõtur

    Seda kasutatakse kile, lehtede, tehisnaha, kummilehe, alumiinium- ja vaskfooliumide, teraslindi, lausriide, kastmiskattega ja muude selliste toodete paksuse või grammkaalu tuvastamiseks.

  • Poortihendi serva paksuse mõõtur

    Poortihendi serva paksuse mõõtur

    Paksusemõõtja lahtri tihendi serva jaoks

    See paigutatakse kotikambri ülemise külje tihendustöökotta ja seda kasutatakse tihendi serva paksuse võrguühenduseta proovivõtukontrolliks ja tihenduskvaliteedi kaudseks hindamiseks.

  • Mitme kaadriga sünkroniseeritud jälgimis- ja mõõtmissüsteem

    Mitme kaadriga sünkroniseeritud jälgimis- ja mõõtmissüsteem

    Seda kasutatakse liitiumakude katoodi ja anoodi katmiseks. Elektroodide sünkroniseeritud jälgimiseks ja mõõtmiseks kasutage mitut skaneerimisraami.

    Mitmekaadriline mõõtesüsteem moodustab sama või erineva funktsiooniga üksikud skaneerimiskaadrid ühtseks mõõtesüsteemiks, kasutades selleks spetsiifilist jälgimistehnoloogiat, et realiseerida kõiki üksikute skaneerimiskaadrite funktsioone ning sünkroniseeritud jälgimis- ja mõõtmisfunktsioone, mida üksikute skaneerimiskaadritega saavutada ei saa. Katte tehnoloogilistest nõuetest lähtuvalt saab valida skaneerimiskaadreid ja toetatakse maksimaalselt 5 skaneerimiskaadrit.

    Levinud mudelid: kahe-, kolme- ja viiekaadrilised β-/röntgenkiirgusega sünkroonsed pinnatiheduse mõõteseadmed: röntgen-/β-kiirgusega kahe-, kolme- ja viiekaadrilised sünkroniseeritud CDM-integreeritud paksuse ja pinnatiheduse mõõtmise seadmed.

12Järgmine >>> Lehekülg 1 / 2